實時功率參考
精確的WDL / PDL特性測量
高功率重復性<±0.02 dB
高PDL重復性±0.01 dB
波長分辨率高，精度高
多通道測量可用
方便設置測量參數
數據分析
概述：
Santec的掃頻測試系統旨在簡化光子測試，提供完整的解決方案，其中高速分析，高分辨率和準確性是關鍵。將Santec的可調諧激光器(TSL-770或TSL-570)與光功率計(MPM-210H)、偏振控制單元(PCU-110)和定制軟件相結合，完整的掃描測試系統優化了WDL和PDL測量，可用于研發和生產環境。
采用實時參考，同時從可調諧激光器獲取輸出功率和通過DUT傳輸的光功率，系統使用Mueller矩陣方法提供高精度的WDL和PDL分析。過度采樣和重新縮放算法用于最大限度地提高測試吞吐量，同時保持測量完整性。
Santec MPM-210H功率計主機可以與4通道電流計模塊MPM-213一起使用。掃描測試系統與MPM-210H和MPM-213相結合，適用于使用收發器式光電二極管(ROSA/相干接收器等)或光通道監視器測量光纖元件的性能。
